Síntesis y caracterización de óxido de grafeno reducido dopado con nitrógeno y fósforo

Abstract

El óxido de grafeno (GO) fue sintetizado mediante el método de Hummers y dopado con nitrógeno y fósforo, posteriormente se llevó a cabo una reducción térmica en los materiales antes descritos. La caracterización estructural del material se realizó mediante difracción de rayos X (DRX), para verificar la estructura cristalina del material puro, dopado y por reducción. Este estudio dará a conocer la cristalinidad de los materiales, así como el efecto de la presencia del agente dopante y el aumento o disminución de los picos característicos de cada material, este resultado es un aporte a la factibilidad de los análisis de resistencia a la transferencia de carga en aplicaciones de baterías de iones de litio.

Graphene oxide (GO) was synthesized using the Hummers method and doped with nitrogen and phosphorus. Subsequently, a thermal reduction was carried out on the previously described materials. The structural characterization of the material was performed using X-ray diffraction (XRD) to verify the crystalline structure of the pure, doped, and reduced material. This study will reveal the crystallinity of the materials, as well as the effect of the dopant agent and the increase or decrease in the characteristic peaks of each material. This result contributes to the feasibility of analyzing charge transfer resistance in lithium-ion battery applications.